Процес фарбування автомобілів

● Зовнішній вигляд інструменту використовує процес фарбування автомобіля, а також елегантний білий і синій колір, що демонструє поєднання технології інструменту та моди.

Візуалізація складу зразків

● Вікно зразка використовує свинцеве скло, яке безпосередньо спостерігає за зразком під час тестування.

Випробування різних зразків

● Неперервне випробування багатьох зразків, без охорони, що заощаджує ваш цінний час.

• Опціональне тестування зразків.

Короткий час аналізу

короткий час аналізу в порівнянні зі звичайним EDXRF;

Час аналізу EDXRF: 300 секунд, час аналізу HeLeeX E9: 60 секунд.

Вакуумний/гелійний подвійний світловий шлях

● Перша вітчизняна та зарубіжна система вакууму / гелію, яка може виявити легкі елементи, такі як Al, Si, P, S, Cl, у твердих, рідких та порошкових зразках.

Радіаційний захист

● дизайн лабіринту, захист від свинцевого скла;

• рентгенівське випромінювання;

● Неправильна робота системи аварійної допомоги, швидке відрізання рентгенівських променів 0,5uS;

• Звіти про радіаційну безпеку інструментів, видані державними органами.

Легка переміщення

У нижній частині інструменту є чотири рухомі колеса, які можуть бути закріплені або переміщені за необхідністю.

вага інструменту 95 кг;

Легко замінити

● Легка заміна пленок для тестування зразків;

● Модульний вирівнювач, система фільтрів, залежно від різних клієнтів, різні випробувальні зразки оснащені різними матеріалами з різним диаметром вирівнювача.

Проста експлуатація

Простий інтерфейс програмного забезпечення, легкий в управлінні, навчитися за 30 хвилин;

● Обладнана діаграмою роботи інструменту, робота інструменту, обслуговування інструменту простіше;

Більш точні дані

● Програмне забезпечення оснащене трьома алгоритмами програмного забезпечення, конфігурація залежно від різних матеріалів;

• самостійно розробляти незалежні алгоритми високої та низької енергії для ефективного поліпшення роздільної здатності елементів з низькою енергією;

Звичайна роздільна здатність EDXRF: 149eV, HeLeeX E9: 125eV;

Відмінна здатність аналізувати легкі елементи

Випробувати P і S з більш високою роздільною здатністю.

Стандартне відхилення елемента S 20 ppm.

Помилка тестування – 5%.