XФлуоресцентний аналізатор має переваги високої точності аналізу, швидкої швидкості тестування та простоти тестування. повністю задоволеніRoHS/WEEEВідповідні вимоги регулювання відповідно до Міжнародної електротехнічної комісіїIEC62321Технічні вимоги та технічні специфікації, встановлені стандартами та китайськими екологічними стандартами.

1. Сфера застосування:

1．Вивчення золота, платини, золотих прикрас K, срібла та інших дорогоцінних металів, мідних сплавів, залізних сплавів та інших сплавів: свинцевої латуні, нікелевої латуні, марганцевої латуні, оловної латуні, оловної бронзи, нікелевої білої меді, цинкової білої меді та інших зразків.

2. АналізAu、Ag、 Rh、Cd、Ru、Pt、Ir、Cu、 Такі елементи як Pb, Fe, Ni, Mn, Zn, Sn, Bi, Sb, As.

Проведення точного випробування шкідливих елементів (Pb, Cd, Hg, Br, Cr) у директиві RoHS.

3Вимірювання товщини металевого покриття, визначення рідини для електропокриття та аналіз вмісту покриття.

II. Характеристики продуктивності:

1.Виявлення зразків є регулярними та нерегулярними, включаючи блокові, шматочкові та лінійні зразки. Тип зразка: пластик, метал, порошок, рідина.

2.Високовольтне джерело живлення. Zui Висока потужність50W. напруга0-50 KVЕлектричний0-1000uAІ.

3.ЕфективнаXСвітлові труби. Zui Висока потужність50WТрубний тиск5-50KVТрубний струм0-1000uAІ.

4.Імпорт оригінального електрохолодильногоSi-PinДетектори. Хороша лінійність енергії, енергетична роздільна здатність та спектральні властивості, високе співвідношення піків.

5.Система електронних ліній з високим співвідношенням сигналу і шуму.

6.Електрична комбінація вісім коректорів і чотирьох фільтрів, автоматичне перемикання програмного забезпечення, що задовольняє застосування різних методів тестування, зменшує міцність фону поблизу аналізних елементів та підвищує аналізну мінімальну межу zui.

7.Багатопараметний метод лінійної регресії дозволяє помітно пригнічувати поглинання та посилення ефекту між елементами, підвищуючи точність аналізу.

8.Вбудована камера високої чіткості для ефективного спостереження за станом випробуваної зони в режимі реального часу та фотографування матеріалу як частини звіту про випробування.

9.Платформа для випробування вантажів, оснащена пристроєм тонкої регуляції, що забезпечує ідеальне налаштування позиціонування предмету та зони виявлення.

10.Малий розмір порожнини зразка(Випробування закритих дверей)：460×298×150mmВеликий розмір проби(Випробування відкритих дверей)Без обмежень, частково замінює ручні функції.

11.Високоефективна тривимірна система охолодження: значно забезпечує надійність і стабільність інструменту.

12.Система радіаційної безпеки: схована конструкція, програмне забезпечення, апаратна система тройного радіаційного захисту.

13. Аналіз SoftчастиниМіжнародне програмне забезпечення для аналізу XRF поєднує в собі різні класичні методи аналізу, включаючи метод емпіричного коефіцієнту, метод фундаментальних параметрів (метод FP), теоретичний метод альфа-коефіцієнту, щоб повністю гарантувати точність даних випробування.

Технічні показники:

1.Діапазон вимірюваних елементів: від сірки (SУран (Uі).
2.Диапазон аналізу вмісту елементів:ppm—99.99%(Різні елементи, різний обсяг аналізу).
3.Аналіз елементів одночасно: можна виміряти десятки елементів одночасно.

4.Час вимірювання:60секунди-200Секунда.

5.Тип зразка: пластик, метал, порошок, рідина.
6.zui Нижня межа виявлення:Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm, Pb≤5 ppmІ.

7.Робоче середовище: температура 15～30℃ Вологість ≤85%(не розкривається).
8.Сила живлення: Обмінний струм220V±5V,Вибір високоточного регулятора напруги.
9.Досягнення найкращої роздільної здатності149eV±5І.
10.Розмір камери зразка:460×298×150mmІ.

11. Розміри зовнішнього вигляду:550×416×333mmІ.

12.Сила живлення:AC 220V～240V、50HzІ.

13.Номінальна потужність:800WІ.

14.Вага: приблизно45KG.

4. Основна конфігурація:

1.Ефективні тонкі вікнаXСвітлові труби (WабоMoцілі).
2.Високовольтне джерело живлення.
3.Оригінальне американське високопродуктивне електрохолодильнеSi-Pinнапівпровідникові детектори.

4.Великі зразки для вимірювання порожнини.
5.Мобільна платформа.

6.Система підвищення світла.
7.Система електронних ліній з високим відношенням сигналу до шуму.
8.Камера високої чіткості.
9.Автоматично перемикається регулятор і фільтр.
10.Тройний режим захисту.
11.Загальна сталева конструкція, гарантія надійної міцності.

12.Комп'ютери, рідкокристалічні монітори, лазерні принтери.

13.Аналіз SoftчастиниІ.

14.Стандартні речовини:Срібло корекційний зразок і т.д.І.

15.Інші конфігурації інструменту: чашка зразка Випробування пленок, застрахунків.